[发明专利]一种提高光栅读数间隙容差的测量装置有效
申请号: | 202110387509.6 | 申请日: | 2021-04-10 |
公开(公告)号: | CN113175881B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 叶国永;张争辉;刘红忠;赵国博;张宁宁 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 西安智大知识产权代理事务所 61215 | 代理人: | 贺建斌 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 一种提高光栅读数间隙容差的测量装置,包括光尺读数头和标尺光栅,光线直接穿过标尺光栅发生衍射和干涉,根据泰伯效应,在泰伯曲面附近沿着标尺光栅长度的方向形成“光尺”,由光尺读数头进行“光尺”上强度的读取,标尺光栅为三维结构化的相位透射光栅,增大了在标尺光栅后面同一空间距离附近的成像深度;光尺读数头由光源和半导体感光元件组成;本发明通过对标尺光栅进行结构改造,改变标尺光栅之后的泰伯像的成像深度信息,直接根据同一深度处的光强大小作为位移大小的数据判断依据;增大了在标尺光栅后面同一空间距离附近的成像深度,从而增加了半导体光电接受元件的安装空间范围,也就是说提高了光栅读数间隙的容差。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 光栅 读数 间隙 测量 装置 | ||
【主权项】:
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