[发明专利]宽禁带半导体BPN/GaN异质结材料及外延生长方法有效

专利信息
申请号: 202110392314.0 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113140620B 公开(公告)日: 2022-12-02
发明(设计)人: 薛军帅;姚佳佳;李蓝星;杨雪妍;孙志鹏;刘芳;吴冠霖;张赫朋;张进成;郝跃 申请(专利权)人: 西安电子科技大学
主分类号: H01L29/20 分类号: H01L29/20;H01L29/205;H01L29/06;H01L29/778;H01L21/02
代理公司: 陕西电子工业专利中心 61205 代理人: 王品华
地址: 710071*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种宽禁带半导体BPN/GaN异质结材料及外延生长方法,主要解决现有氮化镓异质结材料极化强度和二维电子气浓度低、外延生长工艺复杂和控制难度大的问题。其材料结构,自下而上包括衬底(1)、成核层(2)、GaN沟道层(3)、AlN插入层(4)、势垒层(5)和帽层(6),其中势垒层采用P组分为30%‑40%、厚度为10nm‑30nm的BPxN1‑x,帽层采用厚度为1‑2nm的GaN或AlN,材料层结构均采用金属有机物化学气相淀积技术生长。本发明氮化镓异质结材料极化强度大,二维电子气浓度高,能提高氮化镓器件击穿电压和可靠性,材料生长工艺简单成本低,可用于制作场效应晶体管半导体器件。
搜索关键词: 宽禁带 半导体 bpn gan 异质结 材料 外延 生长 方法
【主权项】:
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