[发明专利]一种光学干涉相位解调方法和声波测量系统有效

专利信息
申请号: 202110393116.6 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113203468B 公开(公告)日: 2022-03-15
发明(设计)人: 鲁平;张万金;瞿致远;司马朝坦;刘德明 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01H9/00 分类号: G01H9/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 王颖翀
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种光学干涉相位解调方法和声波测量系统,属于声波测量领域,所述方法包括:S1:采集第一干涉信号V1、第二干涉信号V2、第一对比度B1和第二对比度B2;S2:对V1和V2做直线拟合获得所述直线的斜率k和截距b;S3:利用k、b、V1、V2、B1、B2计算得到归一化信号Vn;S4:对Vn采用三角变换构建第一正交信号Vx和第二正交信号Vy;S5:对Vx和Vy采用微分交叉相乘算法进行处理计算待测相位信号Vm。本发明对两路正交信号采用微分交叉相乘算法实现相位解调,无论是小信号或者大信号,直线拟合算法和三角变换都不受影响,且无需采用光谱采集设备或者引入调制信号。由此提升解调算法动态范围,还能适合于低频信号的相位解调。
搜索关键词: 一种 光学 干涉 相位 解调 方法 声波 测量 系统
【主权项】:
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