[发明专利]平面度测定方法有效
申请号: | 202110393143.3 | 申请日: | 2018-02-21 |
公开(公告)号: | CN113295077B | 公开(公告)日: | 2023-09-12 |
发明(设计)人: | 金内伸朗 | 申请(专利权)人: | 株式会社阿迪泰克工程 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28;G01C9/00 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 任天诺;高培培 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供能够简便地测定大量的销的上端所构成的假想面那样的面的平面度的平面度测定方法。在使在具有平坦的上表面以及下表面且厚度均匀的测定板(5)上安装有水平仪(6)的测定单元(4)载置在大量的销(3)中的相邻的三根销(3)上的状态下,利用水平仪(6)对正交的两个水平方向上的测定板(5)的倾斜进行测定,对各三根销(3)依次进行该步骤。在第二次以后的步骤中,重复选择此前选择过的销(3)中的一个并且针对所有的销(3)对测定板(5)的倾斜进行测定。根据测定板(5)的倾斜,将上端处于最高的位置的销(3)与上端处于最低的位置的销(3)之间的高度的差异作为平面度而计算。 | ||
搜索关键词: | 平面 测定 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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