[发明专利]特征分析方法、装置、计算机设备和存储介质在审

专利信息
申请号: 202110394351.5 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113139447A 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 李赐兴;朱晓龙;许壮;纪晓龙;季兴;汤善敏;张正生;刘永升 申请(专利权)人: 超参数科技(深圳)有限公司
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00;G06N3/08;G06N20/00;A63F13/53
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 唐彩琴
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海街道高*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及一种特征分析方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取预设数据集;将所述预设数据集中各个预设数据的输入特征输入目标机器学习模型中,得到各个所述预设数据的预测输出;基于各个所述预设数据的预测输出确定各个所述预设数据各自的输入特征的特征敏感度;基于各个所述特征敏感度确定所述目标机器学习模型对应的待分析特征集合中各个待分析特征的平均敏感度,基于各个待分析特征的平均敏感度对各个待分析特征进行排序,得到排序结果。采用本方法能够提高特征排序准确性。
搜索关键词: 特征 分析 方法 装置 计算机 设备 存储 介质
【主权项】:
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