[发明专利]一种硅基ZnO量子点减反射膜及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202110396253.5 申请日: 2021-04-13
公开(公告)号: CN113224177A 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 黄建勇;费广涛;许少辉 申请(专利权)人: 上海西源新能源技术有限公司
主分类号: H01L31/0216 分类号: H01L31/0216;H01L31/18
代理公司: 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 代理人: 魏玉娇
地址: 201417 上海市奉贤*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 发明提供了一种硅基ZnO量子点减反射膜及其制备方法,我们用溶胶‑凝胶法制备ZnO量子点,经过离心洗涤之后分散在无水乙醇中,然后通过提拉浸渍镀膜法镀在单晶硅上。这种镀膜的方式具有很大的优势,它具备溶胶‑凝胶法镀膜的优点,而且在单晶硅上镀膜之后的ZnO量子点薄膜无需退火,因为ZnO量子点镀膜液只有ZnO和无水乙醇,没有其他的有机物存在,不需要高温退火除去,而且ZnO量子点的尺寸小,分布于2‑10nm之间,可以减少光的散射。在实验中ZnO量子点的尺寸是可以通过反应时间和温度来调节的,调节ZnO量子点的尺寸可以调节薄膜的折射率的。通过这种方式制备的ZnO减反射膜成本低廉,操作简单,而且ZnO量子点与单晶硅有很好的结合能力,制备出的膜层均匀,减反效果明显。
搜索关键词: 一种 zno 量子 减反射膜 及其 制备 方法
【主权项】:
暂无信息
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