[发明专利]一种硅基ZnO量子点减反射膜及其制备方法在审
申请号: | 202110396253.5 | 申请日: | 2021-04-13 |
公开(公告)号: | CN113224177A | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 黄建勇;费广涛;许少辉 | 申请(专利权)人: | 上海西源新能源技术有限公司 |
主分类号: | H01L31/0216 | 分类号: | H01L31/0216;H01L31/18 |
代理公司: | 合肥和瑞知识产权代理事务所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 魏玉娇 |
地址: | 201417 上海市奉贤*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明提供了一种硅基ZnO量子点减反射膜及其制备方法,我们用溶胶‑凝胶法制备ZnO量子点,经过离心洗涤之后分散在无水乙醇中,然后通过提拉浸渍镀膜法镀在单晶硅上。这种镀膜的方式具有很大的优势,它具备溶胶‑凝胶法镀膜的优点,而且在单晶硅上镀膜之后的ZnO量子点薄膜无需退火,因为ZnO量子点镀膜液只有ZnO和无水乙醇,没有其他的有机物存在,不需要高温退火除去,而且ZnO量子点的尺寸小,分布于2‑10nm之间,可以减少光的散射。在实验中ZnO量子点的尺寸是可以通过反应时间和温度来调节的,调节ZnO量子点的尺寸可以调节薄膜的折射率的。通过这种方式制备的ZnO减反射膜成本低廉,操作简单,而且ZnO量子点与单晶硅有很好的结合能力,制备出的膜层均匀,减反效果明显。 | ||
搜索关键词: | 一种 zno 量子 减反射膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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