[发明专利]一种硬质固相介质高精度取样装置及其使用方法在审
| 申请号： | 202110398942.X | 申请日： | 2021-04-14 |
| 公开（公告）号： | CN113310760A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 石云峰;谢添;邓安嫦;李婷;马彦;张艾明 | 申请（专利权）人： | 中国辐射防护研究院 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人： | 田明;杨方 |
| 地址： | 030006 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硬质固相介质高精度取样装置及其使用方法，装置包括：固定基座，固定基座上方两侧分别设有一个固定墙，在固定基座上方两侧固定墙之间从右至左依次设置有推进装置、样品固定装置和打磨装置，在打磨装置下方固定基座上方还设置有样品收集装置；推进装置穿过右侧固定墙向左推进，用于将通过样品固定装置固定的样品推入样品收集装置中，与打磨装置接触，在打磨过程中将样品推进至计划深度；打磨装置，用于对样品进行打磨；样品收集装置，用于在每一深度的样品打磨完成后，获取样品。本发明从实验装置入手，根本上改变硬质介质解体方式，加之相应深度控制、辐射防护屏蔽装置等，实现安全、高精度、解体效果好的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 硬质 介质 高精度 取样 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
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