[发明专利]一种窄带隙二维磁性薄膜异质结非制冷红外探测器有效
申请号: | 202110400291.3 | 申请日: | 2021-04-14 |
公开(公告)号: | CN113130681B | 公开(公告)日: | 2022-10-18 |
发明(设计)人: | 龙明生;王瑞洁;单磊;李峰;韩涛 | 申请(专利权)人: | 安徽大学 |
主分类号: | H01L31/032 | 分类号: | H01L31/032;H01L31/0232;H01L31/0224;H01L31/0352;H01L31/113;G01J5/20 |
代理公司: | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 | 代理人: | 陈建和 |
地址: | 230601 安徽省*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 一种基于层状材料异质结的光电探测器,包括在衬底上设有自下到上的结构:衬底绝缘层,底面反射电极层,所述电极层置于所述衬底绝缘层上;异质结包括n‑型二维层状薄膜材料薄膜,p‑型二维层状薄膜材料薄膜层在上述n‑型二维层状薄膜材料薄膜层上,上述二维层状异质结置于所述底电极层上,其中异质结结区与底面反射电极层重合且紧密接触;顶电极层,所述顶电极层设置在所述p‑n结上方p‑型二维材料的一侧或部分区域;透明顶栅绝缘层,所述透明顶栅绝缘层覆盖在整个异质结器件正上方,透明顶栅绝缘层包括高介电材料如二氧化铪和PMMA;所述的透明顶栅电极设置在p‑n结正上方,包含石墨烯、ITO等透明材料。 | ||
搜索关键词: | 一种 窄带 二维 磁性 薄膜 异质结非 制冷 红外探测器 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的