[发明专利]杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质在审
| 申请号： | 202110405271.5 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN113312964A | 公开（公告）日： | 2021-08-27 |
| 发明（设计）人： | 张云波 | 申请（专利权）人： | 浙江理工大学 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 南京正联知识产权代理有限公司 32243 | 代理人： | 沈留兴 |
| 地址： | 310000 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本申请涉及杂质检测模型的训练方法、检测方法、设备和介质，训练方法包括：将含有杂质的训练样本输入待训练的神经网络，得到训练样本的杂质位置的输出结果，其中训练样本包括杂质的已知位置信息和已知光学信号，输出结果包含训练样本的杂质的预测位置和预测光学信号；将预测光学信号和预测位置进行分类，得到第一概率分布；将杂质的已知位置信息和已知光学信号进行分类，形成已知杂质的已知分类数据，并将已知分类数据进行one‑hot编码，得到第二概率分布；利用第一概率分布和第二概率分布，计算损失函数；调整神经网络的网格参数以缩小损失函数。神经网络稳定性强，准确性强。 | ||
| 搜索关键词： | 杂质 检测 模型 训练 方法 设备 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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