[发明专利]适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法有效
| 申请号： | 202110409885.0 | 申请日： | 2021-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN113030797B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 李永建;张凯;窦宇;付裕 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01R33/02 | 分类号： | G01R33/02;G01R33/12;G01R1/067;G01R1/04 |
| 代理公司： | 天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙) 12210 | 代理人： | 王瑞 |
| 地址： | 300130 天津市红桥区*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种适用于分析局部残余应力影响的分布式磁测量装置及方法。该装置包括底板、三轴精密位移台、多节式连接杆、滑轨块、B探针组件、双层H传感线圈组件、八向样品固定台和激励；底板上固定有三轴精密位移台和八向样品固定台的底座；多节式连接杆的一个端部与三轴精密位移台的输出端固定连接，多节式连接杆的其余末端分别与各自的滑轨块固定连接；每个滑轨块的滑轨中滑动连接有一个双层H传感线圈组件和两个B探针组件；双层H传感线圈组件位于两个B探针组件之间。本方法可以针对残余应力对磁性材料造成的局部磁性能恶化进行分析，测量范围可调节，测量普适性高，测量精度高且可实现不断电的连续化磁特性测量。 | ||
| 搜索关键词： | 适用于 分析 局部 残余 应力 影响 分布式 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北工业大学，未经河北工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110409885.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
