[发明专利]接口测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202110410336.5 | 申请日： | 2021-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN113076252A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 代长辉 | 申请（专利权）人： | 北京京东拓先科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京律智知识产权代理有限公司 11438 | 代理人： | 孙宝海;袁礼君 |
| 地址： | 100176 北京市大兴区北京经济*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种接口测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取目标对象绘制的业务流程图，所述业务流程图包括至少一个业务流元件；从接口测试元件中分别获取与各业务流元件对应的目标接口测试元件；根据所述业务流程图中各业务流元件之间的关系，将各目标接口测试元件组装成接口测试流程；执行所述接口测试流程，获得第一接口测试结果。该方法可以实现接口自动化测试，降低对测试人员的专业要求，提高接口测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 接口 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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