[发明专利]一种基于有向稀疏采样的手机屏幕缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202110410722.4 | 申请日： | 2021-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN113096105A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 张成英;李缃珍 | 申请（专利权）人： | 深圳市玻尔智造科技有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06K9/62;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 杭州九洲专利事务所有限公司 33101 | 代理人： | 张羽振 |
| 地址： | 518110 广东省深圳市龙华区观澜街道大*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种基于有向稀疏采样的手机屏幕缺陷检测方法，包括步骤：构建DeNet模型；DeNet模型训练；检测DeNet模型；输出手机屏幕缺陷检测结果。本发明的有益效果是：通过低成本的图像处理技术提高手机屏幕缺陷检测的精度；结合了基于稀疏区域方法的易于训练、场景适应性和分类精度，以及基于密集非区域方法的快速训练和评估；设定一个稀疏分布估计方案定向稀疏采样模型(DeNet模型)，并将其应用于一个基于CNN的端到端检测模型中，解决了现阶段手机屏幕缺陷检测中遇到的问题，实现了扩展和适用于以前的最先进的检测模型，并额外强调高评估率和减少人工工程。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 稀疏 采样 手机屏幕 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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