[发明专利]电光相位调制器半波电压的测量方法及系统有效
| 申请号： | 202110416878.3 | 申请日： | 2021-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN113325216B | 公开（公告）日： | 2022-12-02 |
| 发明（设计）人： | 杨宏志;王磊;王思佳;孙玉成;毛叶飞;秦鹏;周菊;高原;张子越;张蕾 | 申请（专利权）人： | 中国空间技术研究院 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京荟英捷创知识产权代理事务所(普通合伙) 11726 | 代理人： | 张阳 |
| 地址： | 100081 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种电光相位调制器半波电压的测量方法及系统，该方法包括：控制种子激光器启动，以将种子激光输入频移反馈腔；调整电光相位调制器的输入信号电压，以使频移反馈腔在一个调制周期内输出两个脉冲正弦调频信号；获取输入信号电压、两个脉冲正弦调频信号的频率及频移反馈腔的参数；根据预设的两个脉冲正弦调频信号的频率、频移反馈腔的参数、半波电压及输入信号电压之间的关系，确定电光相位调制器的半波电压。本发明采用频移反馈腔作为测量系统，将待测量电光相位调制器接入反馈腔内，利用其时频特性实现相位调制器半波电压的测量，测量精度高、适合测量低频信号且不受外界抖动影响。 | ||
| 搜索关键词： | 电光 相位 调制器 电压 测量方法 系统 | ||
【主权项】：
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