[发明专利]基于反转世代距离的数模混合电路测试向量集优选方法有效

专利信息
申请号: 202110417361.6 申请日: 2021-04-19
公开(公告)号: CN113051861B 公开(公告)日: 2022-06-14
发明(设计)人: 杨成林;杨小燕;刘震;龙兵 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G06F30/38 分类号: G06F30/38;G06N3/12
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于反转世代距离的数模混合电路测试向量集优选方法,对数模混合电路进行仿真,得到预设测点在不同测试向量下的正常输出电压和故障输出电压,构建数模混合电路的增量矩阵,将测试向量选择向量作为遗传算法种群的个体,在个体进化过程中,根据个体中所选择测试向量从增量矩阵中抽取对应列向量构成增量子矩阵,据此计算反转世代距离作为个体适应度,并计算得到故障检测率和故障隔离率,根据这三个指标进行个体优选,在最后一代种群中选择最优个体,其所选中的测试向量即构成优选的测试向量集。本发明可以对数模混合电路进行单故障检测的测试向量进行优选,提高故障诊断精度和效率。
搜索关键词: 基于 反转 世代 距离 数模 混合 电路 测试 向量 优选 方法
【主权项】:
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