[发明专利]一种基于LabVIEW的光电跟踪设备测试系统及方法在审
| 申请号： | 202110418585.9 | 申请日： | 2021-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN113242091A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 周国忠;刘红 | 申请（专利权）人： | 中国科学院光电技术研究所 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/077;G01S17/66;G05D3/12;G01B11/26 |
| 代理公司： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人： | 杨学明 |
| 地址： | 610209 *** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于LabVIEW的光电跟踪设备测试系统及方法，测试系统包括上位机、信号采集模块、信号发生模块、传感器测试模块和线缆测试模块，所述上位机分别与信号采集模块和信号发生模块电连接，所述信号采集模块与传感器测试模块连接，所述线缆测试模块通过T型BNC接头分别与信号采集模块和信号发生模块连接，通过该测试系统对光电跟踪设备的传感器和线缆进行测试，判断、缩小故障范围，排除故障。本发明的有益效果是：测试高效、准确，有利于提高测试效率，节省人力和时间；不用对模块进行拆卸，直接通过测试系统即可进行测试，对维修人员的技术要求比较低；均进行单端测试，方便操作。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 labview 光电 跟踪 设备 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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