[发明专利]一种基于电光效应的反射式太赫兹显微成像系统及方法在审
| 申请号： | 202110420645.0 | 申请日： | 2021-04-19 |
| 公开（公告）号： | CN113075132A | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 程良伦;徐利民;王涛;吴衡 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N21/21 | 分类号： | G01N21/21;G01N21/552;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 杨小红 |
| 地址： | 510060 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请公开了一种基于电光效应的反射式太赫兹显微成像系统及方法，通过太赫兹波与待成像样品耦合后，在电光晶体上产生电光效应，从而改变探测光的极化场，使得探测光携带了与待成像样品耦合后的太赫兹波的调制作用，从而通过图像成像模块根据探测光获得所述待成像样品的图像信息。使得无需采用探针扫描方式，而是通过电光效应改变探测光的极化场，并通过探测光即可获得待成像样品的图像信息，可以实现微米级的实时显微成像，提高了显微成像速度和结构稳定性，同时，由于是采用了衰减全反射模块，根据探测光进行成像，而非根据与待成像样品耦合的太赫兹波进行成像，解决了针对含水分较多的新鲜样品的显微成像效果差的技术问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 电光 效应 反射 赫兹 显微 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广东工业大学，未经广东工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110420645.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
