[发明专利]一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质在审
| 申请号： | 202110421571.2 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN112988489A | 公开（公告）日： | 2021-06-18 |
| 发明（设计）人： | 王龙 | 申请（专利权）人： | 易兆微电子（杭州）股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 310051 浙江省杭州市滨江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种射频芯片的测试方法、装置、设备和存储介质，包括：通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号，并通过射频仪以及数字测试设备，根据各射频信号对各待测件进行发射性能的测试；所述射频仪支持对多个待测件的并行测试；通过数字测试设备控制各待测件接收射频仪发送的数据包，并根据各待测件的接收结果，对各待测件进行接收性能的测试；返回执行通过数字测试设备控制多个当前待测件向射频仪发送射频信号的操作，直至完成对全部待测件的处理。本发明实施例的技术方案可以节省多个待测件的测试时间，提高多个待测件的测试效率，以及测试结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射频 芯片 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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