[发明专利]一种判断晶硅太阳能电池片失效的方法有效
| 申请号： | 202110422772.4 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113192857B | 公开（公告）日： | 2023-05-12 |
| 发明（设计）人： | 张泽晖;王鹏 | 申请（专利权）人： | 山西潞安太阳能科技有限责任公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66 |
| 代理公司： | 太原市科瑞达专利代理有限公司 14101 | 代理人： | 李富元 |
| 地址： | 046000 山*** | 国省代码： | 山西;14 |
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| 摘要： | 本发明涉及太阳能电池生产领域。一种判断晶硅太阳能电池片失效的方法，该晶硅太阳能电池片采用SE+PERC生产，如果能全部满足以下条件说明该该晶硅太阳能电池片为良好电池片，否则该晶硅太阳能电池片为失效的电池片，条件一、电池片外观不存在明显清晰SE细栅线；条件二、将电池片放置在二次元显微镜镜头下，选取光源亮度30%，倍镜选取96X，观察栅线以外的区域不存在明显的亮点、亮斑；条件三、将镀膜后蓝膜片放置在二次元显微镜镜头下，选取光源亮度50%，倍镜选取96X，观察栅线光斑是饱满的不存在缺角的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 判断 太阳能电池 失效 方法 | ||
【主权项】：
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H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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