[发明专利]基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备有效
申请号: | 202110423106.2 | 申请日: | 2021-04-20 |
公开(公告)号: | CN113268856B | 公开(公告)日: | 2022-05-20 |
发明(设计)人: | 吴明洋;宋真龙;李铭辉;高科;张振国;刘建兴 | 申请(专利权)人: | 南方科技大学 |
主分类号: | G06F30/20 | 分类号: | G06F30/20;G06T5/30;G06T17/00;G06T19/20;G06F111/08;G06F111/10 |
代理公司: | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 | 代理人: | 徐凯凯 |
地址: | 518055 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: |
本发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f |
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搜索关键词: | 基于 概率 裂纹 表征 方法 存储 介质 终端设备 | ||
【主权项】:
暂无信息
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