[发明专利]基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备有效

专利信息
申请号: 202110423106.2 申请日: 2021-04-20
公开(公告)号: CN113268856B 公开(公告)日: 2022-05-20
发明(设计)人: 吴明洋;宋真龙;李铭辉;高科;张振国;刘建兴 申请(专利权)人: 南方科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06T5/30;G06T17/00;G06T19/20;G06F111/08;G06F111/10
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 徐凯凯
地址: 518055 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了基于概率的裂纹表征与重构方法、存储介质及终端设备,其中,方法包括步骤:获取待处理裂纹图像中裂纹点的坐标,记为F;将所有裂纹点之间的裂纹线段归纳为若干个成长方向向量,其组成的集合记为D;确定裂纹起点、裂纹终点、及其宏观成长向量,分别记为f1、fn、VLmacro,统计获得各个成长方向向量的概率集合,记为P,此时,一条弯曲裂纹可采用上述参数进行表征;根据需要设定成长步长tmax、裂纹起点f1、宏观成长向量VLmacro、成长方向向量集合D及其对应的概率集合P参数;通过重构算法生成一条裂纹或多条裂纹。本发明提供了一种新的弯曲裂纹及其网络的表征和重构方法,解决了弯曲裂纹的表征和重构问题,以及由多条弯曲裂纹组成的裂纹网络的重构问题。
搜索关键词: 基于 概率 裂纹 表征 方法 存储 介质 终端设备
【主权项】:
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