[发明专利]硅片刻蚀装置在审
申请号: | 202110423573.5 | 申请日: | 2021-04-20 |
公开(公告)号: | CN113161266A | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 吴佳俊 | 申请(专利权)人: | 常州亿晶光电科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 常州市英诺创信专利代理事务所(普通合伙) 32258 | 代理人: | 张云 |
地址: | 213213 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明涉及硅片生产设备技术领域,尤其是涉及一种硅片刻蚀装置,包括用于对硅片单面喷射介质的喷淋装置、用于对硅片进行支撑的支撑机构和用于限制硅片位移范围的第一限位机构,所述支撑机构位于喷淋机构和第一限位机构之间,当硅片放置在支撑机构上时,所述硅片与第一限制机构之间具有间隙,当所述喷淋装置对硅片单面喷射介质时,使用时,通过将硅片放置在支撑机构上进行支撑,而喷淋机构对硅片的单面进行喷淋介质,在介质的作用力下硅片悬浮并与限位机构接触,限位机构限制了硅片在支撑机构和限位机构之间的位移范围,由原有的浸泡改为喷淋,不会出现硅片由于介质波动而翻越至硅片另一面的现象,保证了硅片生产稳定可。 | ||
搜索关键词: | 硅片 刻蚀 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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