[发明专利]提升鉴相精度的欠采样频率选取方法有效
| 申请号： | 202110427489.0 | 申请日： | 2021-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN113238245B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 潘映伶;纪荣祎;张滋黎;董登峰;孟繁昌;崔成君;张佳;袁江;周维虎 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01S17/36 | 分类号： | G01S17/36;H03L7/091 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本公开提供一种提升鉴相精度的欠采样频率选取方法，包括：设定待采信号参数；设定欠采样参数；根据欠采样的采样位置与待采信号的相对关系进行采样；以及确认最终欠采样频率，从而提升鉴相精度。所述设定待采信号参数包括设定待采信号频率f。所述设定欠采样参数包括设定欠采样频率为f |
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| 搜索关键词： | 提升 精度 采样 频率 选取 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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