[发明专利]GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法在审
| 申请号： | 202110429972.2 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113189467A | 公开（公告）日： | 2021-07-30 |
| 发明（设计）人： | 陈丽萍;柳永胜;陈辉;程新 | 申请（专利权）人： | 苏州英嘉通半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/01 |
| 代理公司： | 南京聚匠知识产权代理有限公司 32339 | 代理人： | 刘囝 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市相城区*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法，包括依次串联连接的测试板、测试仪器、串口和上位机，测试仪器接收串口传输的信号，并根据接收的信号信息提供给测试板对应的电压、电流；同时对测试板的输出电压、电流信号进行测量，并将测量结果输送至串口；测试板在测试仪器提供的电压、电流下工作，工作完成后的输出结果由测试仪器进行测量；上位机通过串口控制测试仪器的输出电压、电流，并读取测试仪器的输入电压、电流进行数据处理和显示。本发明可避免在测试多个参数时逐个手动更改测试仪器参数设置，避免人工记录测试数据，同时对测试结果的正确与否可以进行直观的显示，大大提升了测试效率，减少人为误操作。 | ||
| 搜索关键词： | gan 功率 器件 静态 参数 自动 测试 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
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