[发明专利]一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置有效
| 申请号： | 202110432856.6 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113070257B | 公开（公告）日： | 2023-06-20 |
| 发明（设计）人： | 杨建平 | 申请（专利权）人： | 芯峰光电技术（深圳）有限公司 |
| 主分类号： | B08B1/04 | 分类号： | B08B1/04;B08B3/04;B08B13/00;H05F3/02 |
| 代理公司： | 北京华仁联合知识产权代理有限公司 11588 | 代理人： | 于凤娟 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体测试技术领域，具体为一种半导体测试用芯片触点无静电清理装置，包括清理机构、水泵和电机，所述清理机构包括壳体，所述壳体的内部设置有内板，所述壳体的内部设置有第一转杆，所述第一隔板的上方设置有第二隔板，且第二隔板的两侧皆与壳体内壁固定连接，所述转套的顶端皆固定连接有输送杆，所述转套的内部皆开设有输送槽，所述输送槽的底端皆均匀连通有输出口，所述壳体的后侧安装有电机，所述第二隔板的顶端设置有第五转杆，所述壳体的外侧安装有防静电保护机构。本发明提高了用户的清理效率，降低了用户的劳动强度，而且静电不易产生积累，大大降低了清理过程中芯片被静电击毁的概率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 测试 芯片 触点 静电 清理 装置 | ||
【主权项】：
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