[发明专利]一种基于纳米颗粒示踪技术的纳米颗粒粒径分布检测分析方法有效

专利信息
申请号: 202110433012.3 申请日: 2021-04-21
公开(公告)号: CN113109218B 公开(公告)日: 2022-03-22
发明(设计)人: 张艳微;巩岩;郎松;胡慧杰 申请(专利权)人: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02;G06V10/30;G06V10/28;G06V10/44
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李博洋
地址: 215163 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供一种液体中纳米颗粒粒径分布检测分析方法,包括如下步骤:步骤1),基于纳米颗粒示踪技术确定待测液体中某一纳米颗粒的运动轨迹;步骤2),计算待测液体中纳米颗粒的流动位移矢量,并将流动位移矢量从纳米颗粒运动位移矢量中去除,即得布朗运动的位移矢量;步骤3),先根据所述纳米颗粒的布朗运动的位移计算其平均扩散系数,再根据斯托克斯爱因斯坦方程计算得到纳米颗粒粒径;步骤4),通过对液体中所有纳米颗粒的粒径进行分析,统计得到待测液体中纳米颗粒的粒径分布情况。该方法具有灵敏度高、准确度高等优点。
搜索关键词: 一种 基于 纳米 颗粒 技术 粒径 分布 检测 分析 方法
【主权项】:
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