[发明专利]一种基于纳米颗粒示踪技术的纳米颗粒粒径分布检测分析方法有效
申请号: | 202110433012.3 | 申请日: | 2021-04-21 |
公开(公告)号: | CN113109218B | 公开(公告)日: | 2022-03-22 |
发明(设计)人: | 张艳微;巩岩;郎松;胡慧杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
主分类号: | G01N15/02 | 分类号: | G01N15/02;G06V10/30;G06V10/28;G06V10/44 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
地址: | 215163 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种液体中纳米颗粒粒径分布检测分析方法,包括如下步骤:步骤1),基于纳米颗粒示踪技术确定待测液体中某一纳米颗粒的运动轨迹;步骤2),计算待测液体中纳米颗粒的流动位移矢量,并将流动位移矢量从纳米颗粒运动位移矢量中去除,即得布朗运动的位移矢量;步骤3),先根据所述纳米颗粒的布朗运动的位移计算其平均扩散系数,再根据斯托克斯爱因斯坦方程计算得到纳米颗粒粒径;步骤4),通过对液体中所有纳米颗粒的粒径进行分析,统计得到待测液体中纳米颗粒的粒径分布情况。该方法具有灵敏度高、准确度高等优点。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纳米 颗粒 技术 粒径 分布 检测 分析 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州生物医学工程技术研究所,未经中国科学院苏州生物医学工程技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202110433012.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种食品自动化切片设备
- 下一篇:一种可全自动清洗烧杯和试管的实验桌