[发明专利]一种在产线测试中检测RAM的方法及系统有效
| 申请号： | 202110434148.6 | 申请日： | 2021-04-21 |
| 公开（公告）号： | CN113140251B | 公开（公告）日： | 2023-02-10 |
| 发明（设计）人： | 刘宏涛;梁辉 | 申请（专利权）人： | 深圳市研强物联技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/48;G11C29/50;G11C29/56 |
| 代理公司： | 深圳市海顺达知识产权代理有限公司 44831 | 代理人： | 蔡星 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街道西*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种在产线测试中检测RAM的方法，包括：数据下载站设定数据包并与检测设备建立连接；检测设备下载数据包前，随机从RAM中抽出单个数据存储单元，进行读写运算，检测RAM信息；检测设备下载数据包，并检测下载过程中RAM信息；在数据包下载后开机检查，通过信息摘要算法检测RAM在运算过程中信息；在老化站最大负载运行RAM，并通过信息摘要法运算以及对RAM内部剩余空间不断的运算，检测RAM在运算过程中信息；恢复出厂设置，重启检测RAM信息；显示检测结果。本发明通过将多种检测手段结合反复检测，在不增加检测周期的情况下能够最大概率的拦截不良RAM，解决了单次测试往往发现不了RAM故障的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 检测 ram 方法 系统 | ||
【主权项】：
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