[发明专利]芯片测试主板、测试系统以及测试方法有效
| 申请号： | 202110434677.6 | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113176493B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 陈辉 | 申请（专利权）人： | 海光信息技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 彭久云 |
| 地址： | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种芯片测试主板、测试系统以及测试方法。该芯片测试主板包括：芯片接口，配置成将被测芯片连接至测试主板；以及控制器，配置成与芯片接口连接，其中，控制器包括网络连接单元和控制单元，网络连接单元配置成进行网络通信，控制单元配置成：经由网络连接单元接收测试数据；控制使得被测芯片运行测试数据；以及获取被测芯片运行测试数据产生的测试信息，并经由网络连接单元发送测试信息。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 主板 系统 以及 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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