[发明专利]一种亚像素边缘检测方法在审
| 申请号： | 202110436860.X | 申请日： | 2021-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN113129322A | 公开（公告）日： | 2021-07-16 |
| 发明（设计）人： | 康厚清;康跃明;肖勇;杨金虎;张磊 | 申请（专利权）人： | 中煤科工集团重庆研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/13 | 分类号： | G06T7/13;G06T5/00;G06T7/136;G06T3/40;G06T7/66 |
| 代理公司： | 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) 50217 | 代理人： | 陈家辉 |
| 地址： | 400050*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明涉及图像处理技术领域，具体公开了一种亚像素边缘检测方法，包括：坐标系建立步骤，在采集到图像信息中建立坐标系；图像预处理，对图像信息进行图像预处理得到目标图像；边缘检测步骤，对目标图像中的激光光斑和标记圈分别进行边缘检测，得到光斑边缘信息和标记圈边缘信息；位置计算步骤，根据光斑边缘信息和标记圈边缘信息分别计算坐标系中的激光光斑的光斑位置信息和标记圈的标记圈位置信息；偏移量计算步骤，根据光斑位置信息和标记圈位置信息计算得到激光光斑移动到标记圈的位置偏移量；矫正步骤，根据位置偏移量控制并调节激光断面检测仪投射的激光光斑位置。采用本发明的技术方案激光光斑与标记圈的对准精度更高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 像素 边缘 检测 方法 | ||
【主权项】：
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