[发明专利]芯片测试用例管理方法及装置在审
| 申请号： | 202110441192.X | 申请日： | 2021-04-23 |
| 公开（公告）号： | CN113094277A | 公开（公告）日： | 2021-07-09 |
| 发明（设计）人： | 罗灏文 | 申请（专利权）人： | 广州粒子微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人： | 胡大成 |
| 地址： | 510663 广东省广州*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试用例管理方法及装置。其中，所述方法包括：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。这样，能够在大量测试用例的情况下使得工作人员或检测系统能够及时察觉到芯片测试用例的遗漏，从而保证了芯片验证的完整性并提升芯片验证结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 管理 方法 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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