[发明专利]一种基于双吸收层结构的光探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202110449838.9 申请日: 2021-04-25
公开(公告)号: CN113257942B 公开(公告)日: 2023-03-03
发明(设计)人: 段晓峰;袁纬方;黄永清;刘凯;李珂;李玉;蔡世伟 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: H01L31/102 分类号: H01L31/102;H01L31/0224;H01L31/0304;H01L31/18
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 蒋娟
地址: 100876 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于双吸收层结构的光探测器及其制备方法,所述光探测器包括:由下至上依次形成的半绝缘InP衬底、InP缓冲层、刻蚀停止层、N接触层、收集层、第一带隙渐变的间隔层、第二带隙渐变的间隔层、双吸收层、第一组分与浓度渐变的电子阻挡层、第二组分与浓度渐变的电子阻挡层、P接触层、形成在所述刻蚀停止层上的n型接触电极以及形成在所述P接触层上的P型接触电极;所述双吸收层的厚度大于1μm,所述双吸收层为本征的光吸收层和P型光吸收层;本发明提供的光探测器具有高响应度、高带宽和低结电容等特点;同时相关工艺具有低成本、工艺简单、易于实现等优点。
搜索关键词: 一种 基于 吸收 结构 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
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