[发明专利]开路短路测试装置及方法在审
| 申请号： | 202110452566.8 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113203960A | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 吴瑞习 | 申请（专利权）人： | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/54;G02F1/13;G02F1/1362 |
| 代理公司： | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人： | 刘泳麟 |
| 地址： | 518132 广东省深*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种开路短路测试装置及方法，开路短路测试装置包括：工作台，用于放置待测试基板，待测试基板包括多条金属线；初步定位单元用于对多条金属线中的金属线进行开路短路测试，在金属线发生开路或短路时，生成金属线的开路信息和短路信息；精确定位单元用于接收开路信息和短路信息，并根据开路信息和短路信息生成金属线的开路位置信息和短路位置信息；切割单元，与工作台滑动连接，用于接收短路位置信息，并根据短路位置信息对金属线的短路位置处进行切割，以对发生短路的金属线进行修补。本申请通过切割单元，对发生短路的金属线进行修补，避免通过专门的修补设备对发生短路的金属线进行修补，缩短基板的生产周期，提高产能。 | ||
| 搜索关键词： | 开路 短路 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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