[发明专利]一种基于相位调节的去耦反射器有效

专利信息
申请号: 202110455652.4 申请日: 2021-04-26
公开(公告)号: CN113285239B 公开(公告)日: 2022-11-15
发明(设计)人: 李锦新;方炯建;尹春燕;谭含颖 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: H01Q15/24 分类号: H01Q15/24;H01Q15/14;H01Q3/32;G06F30/20
代理公司: 桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙) 45134 代理人: 张学平
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于相位调节的去耦反射器及调节方法,包括获取亚波长金属贴片工作频带内的频率,传统去耦反射面放置高度、传统去耦反射面尺寸参数并建立反射波相位函数;获取亚波长金属贴片工作频带内的频率和天线单元之间的距离建立耦合波相位函数;反射波相位函数和耦合波相位函数之差为180°建立隔离度条件函数;基于亚波长金属贴片的距离偏移量和频率偏移量修正隔离度条件函数。加载相移枝节到传统去耦反射面组成去耦反射器,修正隔离度条件函数,通过相移枝节进行调节,实现反射波相位调节,最终对宽带天线在较低剖面高度下实现良好的阵列天线去耦效果。本发明还具有结构简单,外形小巧,可扩展性好和易于集成的特点。
搜索关键词: 一种 基于 相位 调节 反射
【主权项】:
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