[发明专利]推拉结构及其开合程度的检测方法在审
| 申请号： | 202110457223.0 | 申请日： | 2021-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113137150A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 赵健 | 申请（专利权）人： | 上海创米科技有限公司 |
| 主分类号： | E05D15/06 | 分类号： | E05D15/06;G01B7/02 |
| 代理公司： | 北京市一法律师事务所 11654 | 代理人： | 刘荣娟 |
| 地址： | 200241 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请方案提供一种推拉结构及其开合程度的检测方法，所述推拉结构，包括：板状件，所述板状件的顶部或底部包括部分导电表面；滑动轨道，与所述板状件可滑动地连接，所述滑动轨道与所述导电表面接触的表面包括至少一组检测触点组，每组所述检测触点组包括多个检测触点；所述检测触点随所述板状件的移动与所述导电表面依次接触。本申请技术方案的推拉结构及其开合程度的检测方法在检测推拉结构开合程度时，不易受外界因素干扰，大幅度提高了检测结果的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 推拉 结构 及其 程度 检测 方法 | ||
【主权项】：
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