[发明专利]基于Caputo型分数阶微分的不确定电路可靠性分析方法

摘要

本发明公开了一种基于Caputo型分数阶微分的不确定电路可靠性分析方法，方法包括：根据不确定状态变量达阈值的首达时间的定义，建立Caputo型不确定分数阶电路模型；在此模型的基础上，通过比较系统状态初始量X0与系统崩溃状态阈值L的大小，确定系统状态变量Xt关于时间t的函数关系，基于电路系统在首达时间τ达到崩溃状态，给出相应的系统崩溃的置信度β，从而确定可靠性指标，进而实现了对现实中受不确定因素影响的一阶串联式RC电路系统可靠性的分析。本发明可以提供更加符合现实情况的可靠性分析，更全面地考虑由于忽视人为不确定因素和状态变量全局相关性导致的电路建模误差，为实际工程应用提供有效支撑。