[发明专利]显示缺陷检测装置及其检测方法、显示缺陷检测系统有效
| 申请号： | 202110461828.7 | 申请日： | 2021-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN113218962B | 公开（公告）日： | 2023-05-23 |
| 发明（设计）人： | 周乔珂;李博;王晶;李响;曲国健;王伯长;赵锬鸿;郭晖 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/95 | 分类号： | G01N21/95;G06V10/764;G06V10/44;G06N3/0464 |
| 代理公司： | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人： | 申健 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种显示缺陷检测方法，包括：采集待检测显示器的显示图像；采用复变分模态分解方法，从所述显示图像中提取多个有限带宽本征模态分量；采用卷积神经网络，对所述显示图像的多个有限带宽本征模态分量进行提取和融合，得到所述显示图像的平均亮度值和亮度均一度；根据预设的分类规则及所述显示图像的平均亮度值和亮度均一度，判断所述显示图像对应的待检测显示器是否合格。 | ||
| 搜索关键词： | 显示 缺陷 检测 装置 及其 方法 系统 | ||
【主权项】：
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