[发明专利]一种芯片测试机及其测试方法在审
| 申请号： | 202110463579.5 | 申请日： | 2021-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN113231328A | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | 叶珂 | 申请（专利权）人： | 东莞市科蓬达电子科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/02 | 分类号： | B07C5/02;B07C5/344;B07C5/36;G01R1/04;G01R27/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 523755 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本申请涉及一种芯片测试机及其片测试方法，包括基座，基座上设置有测试机构、取料机构以及筛分机构，取料机构设置于测试机构与筛分机构之间，筛分机构包括转盘以及用于驱动转盘转动的驱动电机，转盘上周向设置有多个放置槽，基座上设置有用于启闭放置槽的启闭件，基座上设置有用于控制取料机构、驱动电机以及测试机构联动配合工作的控制模块，根据芯片的阻值确定所需放置的收集箱，并控制取料机构以及筛分机构确定芯片的传输路径，由此将芯片自动传输并筛分至对应的收集箱中，如此能够便于根据用户的需求筛选出良品与不良品，从而能够提高芯片筛选的准确性，提高工作效率，本申请具有便于筛分芯片，以提高工作效率的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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