[发明专利]存储单元及其数据写入和读取方法、存储器、电子设备在审

专利信息
申请号: 202110467444.6 申请日: 2021-04-28
公开(公告)号: CN113328034A 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 杨美音;罗军;崔岩;许静 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H01L43/08 分类号: H01L43/08;H01L27/22;G11C11/16
代理公司: 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 代理人: 刘贺秋
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了存储单元及其数据写入和读取方法、存储器、电子设备。该存储单元包括半导体基底、第一绝缘介质层、铁电薄膜层、底电极、隧道结、第一金属互连部、第二金属互联部、第三金属互联部及第四金属互联部。第一绝缘介质层形成于半导体基底上,铁电薄膜层设置于第一绝缘介质层上,底电极形成于铁电薄膜层上,隧道结形成于底电极上。第一金属互连部与底电极的第一端连接,第三金属互连部与底电极的第二端连接。第二金属互连部与铁电薄膜层连接,第四金属互连部与隧道结连接。与现有技术相比,本发明能够基于设置的铁电薄膜层控制隧道结中的磁矩定向翻转。本发明基于存储器件单元结构设计,无需外设磁场,充分满足了器件高集成度的要求。
搜索关键词: 存储 单元 及其 数据 写入 读取 方法 存储器 电子设备
【主权项】:
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