[发明专利]一种光模块用器件的测试方法有效

专利信息
申请号: 202110473204.7 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113176078B 公开(公告)日: 2022-07-08
发明(设计)人: 郑萌;薄生伟;熊梦;梁付运 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙) 42233 代理人: 胡星驰
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种光模块用器件的测试方法,包括以下步骤:(1)校准COC芯片类光组件和耦合光纤的机械中心;(2)依次进行每一COC芯片进行耦合,进行光谱分析或进行失败结果记录;分为首次耦合和再次耦合,首次耦合在以机械中心为中心在首次搜索范围内尝试耦合进行光谱测试,耦合成功则进行COC芯片光谱分析,否则进行再次耦合,耦合成功则进行COC芯片光谱分析,否则进行失败结果记录;(3)将各COC芯片光谱测试结果汇总,作为所述并排装配有COC芯片的工装板的测试结果提交。本发明首先在较小的范围内,尝试光纤耦合进行COC芯片光谱测试,缩短多个COC芯片的总测试时间;如果首次耦合失败,则扩大耦合搜索范围进行再次耦合,兼顾成功效率,减少人工干预。
搜索关键词: 一种 模块 器件 测试 方法
【主权项】:
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