[发明专利]一种高度可控的电容加速度计封装的方法在审

专利信息
申请号: 202110473445.1 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113200513A 公开(公告)日: 2021-08-03
发明(设计)人: 涂良成;杨山清;龚跃武;陈婷;张晨艳;崔建玉 申请(专利权)人: 中山大学南昌研究院
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00;B81B7/02;B81B7/00
代理公司: 南昌合达信知识产权代理事务所(普通合伙) 36142 代理人: 陈龙
地址: 330000 江西省南昌*** 国省代码: 江西;36
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摘要: 发明属于微纳加工制造技术领域,具体涉及一种高度可控的电容加速度计封装的方法,所述方法对应的封装结构包括基底、弹簧振子、内部器件、极板、焊料、限位结构和上盖;所述方法包括如下步骤:(1)在基底上制作内部器件;(2)对内部器件进行刻蚀,形成弹簧振子的结构;(3)在上盖的表面制作极板和限位结构;(4)在极板的表面放置焊料并260℃~280℃温度下回流;(5)将基底与上盖进行封装键合。本发明采用匀胶、光刻、显影制作限位结构,取代了现有技术中的电镀工艺,简化工艺、提高效率,并且能更好控制上下极板间距。工艺简单,成本降低,良率提高。
搜索关键词: 一种 高度 可控 电容 加速度计 封装 方法
【主权项】:
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