[发明专利]一种焊接方法及芯片封装方法在审

专利信息
申请号: 202110475537.3 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113380636A 公开(公告)日: 2021-09-10
发明(设计)人: 周云;曾昭孔;黄柏荣;卢玉溪 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L21/56;H05K3/34
代理公司: 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人: 郭栋梁
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 本申请公开了一种焊接方法及芯片封装方法,适用于半导体封装,包括:将待焊接部件和焊接部位进行氧化处理,使得待焊接部件和焊接部位表面形成金属氧化物层;在含有还原性气体的气氛中,将待焊接部件和焊接部位通过回流焊进行焊接,使得待焊接部件和焊接部位紧密结合。本申请的焊接方法通过使用还原性气体,使待焊接部件和焊接部位表面的氧化物在受热过程中发生还原反应,在保证金属散热层可靠焊接的同时,有效避免了现有使用树脂类助焊剂造成芯片成品率低的问题。
搜索关键词: 一种 焊接 方法 芯片 封装
【主权项】:
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