[发明专利]一种紧缩场测量系统有效

专利信息
申请号: 202110475633.8 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113296067B 公开(公告)日: 2023-05-09
发明(设计)人: 王卫民;陈雨夏;吴永乐 申请(专利权)人: 北京邮电大学
主分类号: G01S7/40 分类号: G01S7/40
代理公司: 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 代理人: 孟维娜;赵元
地址: 100876 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种紧缩场测量系统,涉及雷达信号处理技术领域,馈源与副反射面分别位于主反射面的两侧,且馈源位于副反射面的焦点位置,其中:馈源与副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离,用于发射球面波;副反射面具有锯齿状边缘,与主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离,用于接收球面波,并对球面波进行反射,使得球面波沿着反射后的方向继续传输;主反射面具有锯齿状边缘,用于接收经过副反射面反射的球面波,并对接收到的球面波进行反射,将球面波转化为近似平面波,发射近似平面波。应用本发明实施例提供的系统测量天线,能够减小对天线进行测量时的误差。
搜索关键词: 一种 紧缩 测量 系统
【主权项】:
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