[发明专利]一种紧缩场测量系统有效
申请号: | 202110475633.8 | 申请日: | 2021-04-29 |
公开(公告)号: | CN113296067B | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 王卫民;陈雨夏;吴永乐 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G01S7/40 | 分类号: | G01S7/40 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孟维娜;赵元 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明实施例提供了一种紧缩场测量系统,涉及雷达信号处理技术领域,馈源与副反射面分别位于主反射面的两侧,且馈源位于副反射面的焦点位置,其中:馈源与副反射面在第一坐标系中的水平距离为第一预设距离,用于发射球面波;副反射面具有锯齿状边缘,与主反射面在第二坐标系中的水平距离为第二预设距离,用于接收球面波,并对球面波进行反射,使得球面波沿着反射后的方向继续传输;主反射面具有锯齿状边缘,用于接收经过副反射面反射的球面波,并对接收到的球面波进行反射,将球面波转化为近似平面波,发射近似平面波。应用本发明实施例提供的系统测量天线,能够减小对天线进行测量时的误差。 | ||
搜索关键词: | 一种 紧缩 测量 系统 | ||
【主权项】:
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