[发明专利]一种基于FPGA嵌入式软核的DDR2测试方法在审
| 申请号： | 202110475851.1 | 申请日： | 2021-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN113270137A | 公开（公告）日： | 2021-08-17 |
| 发明（设计）人： | 马瑞;徐燕;刘侃;何俊波;王崇 | 申请（专利权）人： | 北京航天飞腾装备技术有限责任公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56;G11C29/10;G11C29/04 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 臧春喜 |
| 地址： | 100097 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于FPGA嵌入式软核的DDR2测试方法，包括：对嵌入式软核进行初始化配置，得到第一配置信息；对嵌入式软核的外围设备进行初始化配置，得到第二配置信息；其中，嵌入式软核的外围设备，包括：DDR2控制IP核和串口IP核；根据第一配置信息和第二配置信息，生成硬件描述文件，并绑定信号和管脚；当接收到DSP发送的测试指令时，嵌入式软核与DSP进行测试指令握手，对DDR2进行测试，得到测试结果；将测试结果发送至DSP；DSP接收测试结果，并对测试结果进行解析和判断。本发明应用嵌入式软核测试DDR2，简化了测试系统的结构，具有占用资源少、可配置性强、调试简便、成本低、功能丰富、可扩展性强等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 嵌入式 ddr2 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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