[发明专利]三维存储器器件及其制造方法在审

专利信息
申请号: 202110476646.7 申请日: 2021-04-29
公开(公告)号: CN113488484A 公开(公告)日: 2021-10-08
发明(设计)人: 吴昭谊;杨世海;林佑明;贾汉中 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11587 分类号: H01L27/11587;H01L27/1159;H01L27/11597
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 提供了包括第一堆叠结构和第二堆叠结构以及第一导电柱和第二导电柱的三维存储器器件。第一堆叠结构包括沿垂直方向堆叠的第一堆叠层。第一堆叠层的每个包括第一栅极层、第一沟道层以及第一栅极层和沟道层之间的第一铁电层。第二堆叠结构与第一堆叠结构横向间隔开,并且包括沿垂直方向堆叠的第二堆叠层。第二堆叠层的每个包括第二栅极层、第二沟道层以及第二栅极层和沟道层之间的第二铁电层。第一栅极层和第二栅极层设置在第一铁电层和第二铁电层之间,以及第一导电柱和第二导电柱沿垂直方向延伸并且分别与第一沟道层和第二沟道层接触。本申请的实施例还涉及制造三维存储器器件的方法。
搜索关键词: 三维 存储器 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
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