[发明专利]测试电路、测试设备以及测试电路测试方法在审
| 申请号： | 202110483061.8 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113176487A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陈跃俊 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 樊春燕 |
| 地址： | 100071 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。测试电路包括电源、二极管、电感、第一开关、第二开关和测试端。二极管的阴极与电源的正极连接。电感包括第一端和第二端。电感的第一端与二极管的阳极连接。第一开关的一端与电源的正极连接。第一开关的另一端与电感的第二端连接。第二开关的一端与二极管的阳极连接。第二开关的另一端与电源的负极连接。测试端的一端与电感的第二端连接。测试端的另一端与电源的负极连接。测试端用于插接功率二极管。电感中的电流可以在电感、二极管、电源和功率二极管形成回路中快速释放。电感中的电流能够快速降低到零。因此测试电路可以快速启动第二次测试，大大提高测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 设备 以及 方法 | ||
【主权项】：
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