[发明专利]一种BGA芯片检测系统在审

专利信息
申请号: 202110484045.0 申请日: 2021-04-30
公开(公告)号: CN113219325A 公开(公告)日: 2021-08-06
发明(设计)人: 孙军;潘亮良 申请(专利权)人: 无锡新微阳科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 214000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 本申请涉及一种BGA芯片检测系统,其包括工作台,工作台的上表面连接有芯片放置板,工作台上连接有支撑架,支撑架上滑动连接有夹持组件,支撑架上设有驱动组件,工作台上设有第一回收板、第二回收板和检测槽,检测槽内设有用于进行检测的检测组件;工作台上设置有用于收集不合格芯片的回收组件,第一回收板远离回收组件的一侧设有第一推动组件,第一回收板内设有与第一推动组件电性连接的第一重力传感器;工作台上设置有用于收集合格芯片的收集组件,第二回收板远离收集组件的一侧设有第二推动组件,第二回收板内设有与第二推动组件电性连接的第二重力传感器。本申请具有实现了对检测完成的芯片的自动分类的效果。
搜索关键词: 一种 bga 芯片 检测 系统
【主权项】:
暂无信息
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