[发明专利]测试电路、测试设备以及测试电路测试方法在审
| 申请号： | 202110485124.3 | 申请日： | 2021-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN113176488A | 公开（公告）日： | 2021-07-27 |
| 发明（设计）人： | 陈跃俊;巩志远;刘兴;袁鑫 | 申请（专利权）人： | 北京华峰测控技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/52;G01R31/14 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 吴娜娜 |
| 地址： | 100071 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请实施例提供一种测试电路、测试设备以及测试电路测试方法。需要对被测试器件测试时，控制第一开关导通，控制被测试器件开启。此时电源的正极、第一开关、电感、测试端、电源的负极依次连接构成回路。电源给电感充电。电感的电流逐渐增大。当电感的电流增大到一定程度后，控制第一开关断开，并且关断被测试器件、导通第二开关。此时第二开关、电源的正极、电源的负极、二极管、电感的第一端、电感的第二端依次连接形成第二回路。电感中的电流可以依次通过第二开关、电源、二极管释放。电感中的电流还可以被电源回收。因此测试电路能够快速实现电感中的电流清零，便于快速进行下一次的测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 设备 以及 方法 | ||
【主权项】：
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