[发明专利]基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法有效

专利信息
申请号: 202110487830.1 申请日: 2021-05-06
公开(公告)号: CN112989637B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 贾祥 申请(专利权)人: 中国人民解放军国防科技大学
主分类号: G06F30/20 分类号: G06F30/20;G06F111/08;G06F119/04
代理公司: 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 代理人: 周达
地址: 410073 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种基于分布折算、近似和综合的星敏系统可靠性评估方法,先确定星敏系统部件的寿命分布,将星敏感器和星敏线路寿命分布的分布函数向串联结构折算以确定各分系统寿命的折算分布,随后确定各分系统寿命的本级分布,再将各分系统寿命的折算分布近似为与其本级分布同类型的分布,进一步综合分系统寿命的近似分布和本级分布给出综合分布,最后基于分系统寿命的综合分布求得系统寿命的综合分布,从而得到系统的可靠度评估结果。本发明步骤简单,结果清晰,易于操作。
搜索关键词: 基于 分布 折算 近似 综合 系统 可靠性 评估 方法
【主权项】:
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