[发明专利]辅助图形的添加方法、装置及测试版图有效
申请号: | 202110492632.4 | 申请日: | 2021-05-07 |
公开(公告)号: | CN112904662B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
发明(设计)人: | 赵广;罗招龙;王康 | 申请(专利权)人: | 南京晶驱集成电路有限公司 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 周耀君 |
地址: | 210006 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种辅助图形的添加方法、装置及测试版图,应用于半导体技术领域。在本发明提供的辅助图形的添加方法中,首先通过确定相邻两个错位排布的的主图形的外围区域形成的拐角区域,然后,再在拐角区域中识别出需要添加本发明提供的L型辅助图形的待处理拐角区域,并在该待处理的拐角区域中添加L型辅助图形,从而避免了现有技术中由于需要对该拐角区域中的每个主图形均添加辅助图形,而导致添加的多个辅助图形存在冲突,进而导致主图工艺窗口低的问题。因此,本发明提供的辅助图形的添加方法提高了版图的光刻工艺窗口,提升了OPC修正过程中的准确度,并有效提升了产品良率。 | ||
搜索关键词: | 辅助 图形 添加 方法 装置 测试 版图 | ||
【主权项】:
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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