[发明专利]相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质在审
| 申请号： | 202110496934.9 | 申请日： | 2021-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN115308202A | 公开（公告）日： | 2022-11-08 |
| 发明（设计）人： | 朱佩平;何其利;王研;张凯;朱中柱;袁清习;黄万霞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院高能物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京志霖恒远知识产权代理有限公司 11435 | 代理人： | 郭栋梁 |
| 地址： | 100049 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种相位衬度显微镜、相移定量成像方法、系统及存储介质，该显微镜包括依次排布的点阵靶环光源、孔光阑、样品台、波带片物镜、点阵相移环和探测器。本申请通过波带片物镜将点阵靶环光源成像在点阵相移环上，各个点源像在该点阵相移环上都有唯一对应的相位滤波点，由于点源像和相位滤波点比较小，因此在放入样品之后，绝大部分低级衍射光都能从相位滤波点旁边不受阻挡地通过，从而最大限度消除产生光晕伪影的原因，结合相移简便成像方法，实现相移定量成像的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 相位 显微镜 相移 定量 成像 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
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