[发明专利]一种高反光表面三维视觉测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 202110497897.3 申请日: 2021-05-08
公开(公告)号: CN113237435B 公开(公告)日: 2022-02-08
发明(设计)人: 孙军华;张琼怡;张艳军 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 北京竹辰知识产权代理事务所(普通合伙) 11706 代理人: 陈龙;聂鹏
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种高反光表面三维视觉测量系统及方法,包括:建立投影仪光强与相机成像灰度之间的模型,投影均匀的饱和灰度图像,在高、低两次曝光时间下采集图像,通过对饱和像素标记,获得物体表面的高反光区域在相机图像中的成像区域,并计算使其成像不发生饱和的低灰度投影强度;进行相机像素绝对相位判断,获得投影图像中每个待调整像素对应的一个或多个相机像素,计算投影像素灰度与其对应的相机像素平均灰度,构成灰度匹配对;将匹配好的投影像素灰度与相机像素灰度作为样本,拟合投影强度模型参数;根据投影强度模型计算最佳投影强度,生成自适应正弦图像;投影仪投影自适应正弦图像,工业相机采集图像,多频外差解相法解相,根据条纹投影轮廓术视觉测量模型,获得物体三维形貌。
搜索关键词: 一种 反光 表面 三维 视觉 测量 系统 方法
【主权项】:
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