[发明专利]等效电路参数的生成方法、多工器去载方法、装置有效
| 申请号： | 202110497927.0 | 申请日： | 2021-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN112986747B | 公开（公告）日： | 2021-10-12 |
| 发明（设计）人： | 章秀银;苏华峰;徐金旭;吴琳玲 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G06F30/30 | 分类号： | G06F30/30 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐敏 |
| 地址： | 510665 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请涉及一种等效电路参数的生成方法、多工器的去载方法、装置。所述等效电路参数的生成方法包括：对待调试多工器中待调试滤波器的原始散射参数进行去相位加载处理，得到目标散射参数；对目标散射参数进行转换得对应的原始导纳参数；对原始导纳参数进行公共腔的加载参数的去载处理，得到目标导纳参数；提取目标导纳参数中的极点以及与极点对应的留数；根据极点以及与极点对应的留数生成等效电路参数。采用本方法能够使用低成本的网络分析仪便可对多工器进行调试，从而可以极大地减少对多工器进行调试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 等效电路 参数 生成 方法 多工器去载 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华南理工大学，未经华南理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202110497927.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
